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设备名称:红外热点分析仪 GW-3201

价格(不含税):¥0元/小时
含税价格:¥0元/小时
开机费用:¥0元
*注:若价格为0表示该设备暂不可被租用
点住鼠标左键左右拖动图片可多角度浏览该设备

 

设备介绍

GW-3201可用于半导体器件封装后,对器件表面温度分布的检测试验,具有图像采集、失效分析等功能,目的在于检测器件封装腔体内短路等故障、帮助实现散热封装设计,以达到封装稳定性,是一种非接触式测试实验。

特点特色

热灵敏度:<0.05℃
测温精度:±2℃
显微镜最小分辨率:25um
加热台温度范围:+5℃~+100℃
电源输出电压量程:0~30V,精度0.5mV
电源输出电流量程:0~5A,精度0.1mA

 

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